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德力1000光纖光纜生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
OM1000產(chǎn)品是由Deviser公司于2016年推出的高性能臺(tái)式光纖光纜生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)。是基于OTDR原理的綜合測(cè)試產(chǎn)品。采用高集成、實(shí)時(shí)分析處理等新技術(shù),面向光纜加工、測(cè)試、檢驗(yàn)的Q方位應(yīng)用,具有Y秀的測(cè)試性能和性?xún)r(jià)比。
功能特點(diǎn)
● Y秀的短距特性,事件盲區(qū)小1m,衰減盲區(qū)小5m
● 更大的動(dòng)態(tài)43dB/41dB,大可測(cè)180km光纖
● 齊全的用戶數(shù)據(jù)接口,支持LAN、USB等
● 實(shí)時(shí)刷新速率可達(dá)8場(chǎng)/s,讓測(cè)試更加快捷
● 多支持4個(gè)光口同時(shí)測(cè)試
德力1000光纖光纜生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)儀
技術(shù)指標(biāo)
技術(shù)規(guī)格 | OM1000 | |||
波長(zhǎng)(可定制) |
1310nm/1550nm/1300nm/850nm/1383nm | |||
波長(zhǎng)精度 | 1310nm/1550nm/1300nm/850nm:±5nm; 1383nm:±1nm | |||
光譜寬度(RMS) |
<10nm | |||
測(cè)量項(xiàng) | 事件損耗、反射損耗、衰減、衰減系數(shù)、RMS及峰-峰噪音、回波損耗 | |||
脈沖寬度(ns) | 5,10,20,50,100,200,500,1000,2000,5000,10000,20000 | |||
動(dòng)態(tài)a |
SM:1310nm 30~43dB 1550nm 28~41dB MM:1300nm 27dB 850nm 25dB | |||
事件盲區(qū)b |
≤1.0m | |||
衰減盲區(qū)c |
≤5m | |||
量程范圍 |
SM:100m~400km MM: 100m~50km | |||
采樣分辨率 |
5cm~12.8m | |||
量程范圍 (km) |
SM:100m~400km MM: 100m~50km | |||
群折射率范圍 | 1.000000~2.000000 | |||
測(cè)距不確定性d |
±(0.75m+0.0001%×光纖長(zhǎng)度+采樣分辨率) | |||
衰減精度 |
0.01dB/km | |||
水平顯示(km) | 0.03至400滿屏 | |||
垂直顯示(dB) | 0.6至60滿屏 | |||
垂直分辨率比例 | 0.01dB | |||
處理器 |
Intel® Core™ Ivy Bridge/Sandy Bridge 處理器 | |||
顯示接口 | VGA | |||
LAN 接口 | 2個(gè)10/100/1000Mbps網(wǎng)絡(luò)接口,LAN1可支持網(wǎng)絡(luò)喚醒,其中1 個(gè)可選 | |||
USB接口 | USB2.0 ×6, USB供電 DC5V±0.05V@500mA | |||
激光安全 | IEC 60825-1 CLASS 1M | |||
光纖測(cè)量標(biāo)準(zhǔn) | ITU-T推薦G650,IEC605793-1-22、-40和-45,TIA/EIA FOTP-59、60和61 | |||
尺寸(長(zhǎng)×寬×高) | 整機(jī):480mm×400mm×140mm | |||
重量 | 16.5kg | |||
操作溫度范圍 | 10℃~+50℃ | |||
存儲(chǔ)溫度范圍 | 40℃~+70℃ | |||
相對(duì)濕度 | 0%-95% 非凝結(jié) |
a. 測(cè)試條件: 25℃ ±5℃,20μs 脈寬,3 分鐘平均時(shí)間,起始后向散射至 SNR=1;
b. 測(cè)試條件: 25℃ ±5℃,5ns 脈寬,非飽和反射事件,5cm 距離分辨率;
c. 測(cè)試條件: 25℃ ±5℃,5ns 脈寬,非飽和反射事件,5cm 距離分辨率;
d. 未計(jì)入光纖群折射率不確定性。